日本日立 SU8010 冷场发射扫描电子显微镜（SEM+EDS）
主要配置：
能谱仪(EDS)；离子溅射仪（Au-Pd靶）等
主要用途：
用于有机和无机材料的微观形貌结构的研究，通过观察微观形貌以及元素的含量来控制样品的质量。
主要技术指标：
分辨率：0.3nm；
加速电压：0.1 ~ 30kV （0.1KV）；
具有高位和低位二次电子探测器；
样品台驱动：3轴马达驱动(包含 两轴手动)；
物镜光阑: 4孔可调式，内置加热自清洁装置
主要学科领域：
材料科学,矿山工程技术,能源科学技术,航空、航天科学技术
服务技术领域：
新材料及生产工艺和设备,纳米材料,其他
